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INSTITUTO MEXICANO DE CONTROL DE CALIDAD, A.C.

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Discurso de aceptación del premio por el

Dr. Wayne Nelson, Ganador del

Premio H. Vilchis Villaseñor

El Dr. Wayne Nelson es experto en Análisis de Datos de Fiabilidad y de Ensayos Acelerados.  Trabajó en el Research and Development Center de General Electric Co. durante 24 años.  Actualmente es Consultor Privado y asesora y capacita a muchas empresas, sociedades profesionales, y universidades en Aplicaciones Ingenieriles de la Estadística.


 Es Fellow del Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), la American Society for Quality (ASQ) y la American Statistical Association.


Por sus aportes al Análisis de Datos de Fiabilidad y de Ensayos Acelerados, la ASQ le otorgó la Medalla Shewhart en 2004 y la Medalla Shainin en 2010, y la IEEE Reliability Society le otorgó su Lifetime Achievement Award en 2005.  Ganó también los premios Brumbaugh, Wilcoxon, y Youden de la ASQ y nueve premios de la ASA para  ponencias destacadas.  Es autor de tres libros y de más de 130 artículos.